日立TM4000臺(tái)式電子掃描電鏡*的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

TM4000Plus臺(tái)式電子掃描電鏡是在TM4000基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量。TM4000Plus可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實(shí)時(shí)進(jìn)行顯示，獲得多的樣品信息。可選配附件豐富，擁有諸多附加功能。

操作直觀，支持使用目標(biāo)數(shù)據(jù)制作報(bào)告等一系列作業(yè)

為滿足客戶的"想要不進(jìn)行樣品前處理，直接啟動(dòng)設(shè)備，快速且簡(jiǎn)單獲取目標(biāo)樣品數(shù)據(jù)"需求，TM4000系列進(jìn)行了全面改進(jìn)。

可觀察大直徑為80 mm，厚度為50 mm的樣品。設(shè)備內(nèi)置光學(xué)相機(jī) (選配)，可輕松尋找目標(biāo)樣品。
從裝樣到獲取圖像僅需3分鐘左右，優(yōu)化了原來(lái)的形狀觀察、元素分析到報(bào)告制作的工作流程。

Camera Navi (選配)

支持光學(xué)圖像中尋找目標(biāo)樣品和MAP功能下觀察樣品

Report Creater

僅需選擇圖像和模板即可完成Word®、Excel®、Powerpoint®格式的報(bào)告。

全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了高畫(huà)質(zhì)圖像

樣品：水泥 5 kV UVD

環(huán)保型SEM采用無(wú)油真空系統(tǒng)，任何地方均可安裝

采用無(wú)油泵和無(wú)需做對(duì)中的預(yù)對(duì)中燈絲

主要參數(shù)：

1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV（均四檔可調(diào)）、EDX

2. 放大倍率：10×~100000×

3. 觀察模式：導(dǎo)體（TM4000Plus）、標(biāo)準(zhǔn)模式，消除電荷模式

4. 探測(cè)器：4分割背散射探測(cè)器、低真空二次電子探測(cè)器   （TM4000Plus）

應(yīng)用領(lǐng)域：

生命科學(xué)

材料科學(xué)

化學(xué)

電子制造

食品工業(yè)